GDOC-2011-1612

Caracterización II: Microscopias avanzadas - [66104]


Curso: 2011-2012

Universidad de Zaragoza, Zaragoza

Titulación: Máster Universitario en Materiales Nanoestructurados para Aplicaciones Nanotecnológicas

Idioma: Español

Profesor(es): Gascón Sabaté, Ignacio ; Cea Mingueza, Pilar ; Arnaudas Pontaque, José Ignacio ; Magén Domínguez, Cesar ; Serrate Donoso, David

Resumen:       En esta asignatura se dan a conocer al estudiante las microscopias avanzadas (electrónicas, dual-beam y de sonda local) que permiten estudiar la morfología y topografía de materiales nanoestructurados con resolución nanométrica además de ser poderosas herramientas de análisis, determinación de propiedades eléctricas y magnéticas a escala molecular y permitir la manipulación de la materia a escala atómica y molecular.       Una breve descripción de los contenidos de esta asignatura incluye:       Introducción a al microscopia electrónica y de sonda local. Microscopia electrónica de barrido. Microscopia electrónica de transmisión (imagen y difracción). Técnicas de análisis asociados a la microscopia electrónica: Dispersión de rayos X y de pérdidas de energía de electrones. Microscopia de efecto túnel. Espectroscopias de superficies. Microscopia de fuerzas atómicas y magnéticas. Microscopias “dual-beam”: imagen, “etching”, nanolitografía, deposición. Otras microscopias avanzadas ópticas: confocal y de campo próximo.        Las clases teóricas serán complementadas por la realización de sesiones prácticas que incluyen:                         1.- SEM                         2.- TEM                         3.- AFM                         4.- STM

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