Accueil > Caracterización II: Microscopias avanzadas |
GDOC-2011-1612 |
Curso: 2011-2012
Universidad de Zaragoza,
Zaragoza
Titulación: Máster Universitario en Materiales Nanoestructurados para Aplicaciones Nanotecnológicas
Idioma: Español
Profesor(es): Gascón Sabaté, Ignacio ; Cea Mingueza, Pilar ; Arnaudas Pontaque, José Ignacio ; Magén Domínguez, Cesar ; Serrate Donoso, David
Resumen: En esta asignatura se dan a conocer al estudiante las microscopias avanzadas (electrónicas, dual-beam y de sonda local) que permiten estudiar la morfología y topografía de materiales nanoestructurados con resolución nanométrica además de ser poderosas herramientas de análisis, determinación de propiedades eléctricas y magnéticas a escala molecular y permitir la manipulación de la materia a escala atómica y molecular. Una breve descripción de los contenidos de esta asignatura incluye: Introducción a al microscopia electrónica y de sonda local. Microscopia electrónica de barrido. Microscopia electrónica de transmisión (imagen y difracción). Técnicas de análisis asociados a la microscopia electrónica: Dispersión de rayos X y de pérdidas de energía de electrones. Microscopia de efecto túnel. Espectroscopias de superficies. Microscopia de fuerzas atómicas y magnéticas. Microscopias “dual-beam”: imagen, “etching”, nanolitografía, deposición. Otras microscopias avanzadas ópticas: confocal y de campo próximo. Las clases teóricas serán complementadas por la realización de sesiones prácticas que incluyen: 1.- SEM 2.- TEM 3.- AFM 4.- STM
Este registro pertenece a las colecciones:
materiales-academicos > guias-docentes > guias-docentes-ciencias > masteres-ciencias > master-materiales-nanoestructurados-aplicaciones-nanotecnologicas
materiales-academicos > guias-docentes > Guías docentes: Curso 2011-2012