Medida de emisividad de recubrimientos bajo emisivos mediante cámara termográfica.

Martín Nieto, Andrea
Carretero Chamarro, Enrique (dir.)

Universidad de Zaragoza, CIEN, 2024
Departamento de Física Aplicada, Área de Física Aplicada

Graduado en Física

Resumen: El trabajo consiste en plantear y optimizar un sistema para la medida de emisividad de recubrimientos de bajo emisivos mediante el uso de una cámara termográfica. Las medidas estándar de emisividad suelen consistir en la medida espectral del coeficiente de reflectancia en el infrarrojo térmico, no obstante, en muestras con baja emisividad, esta medida plantea grandes dificultades a la hora de diferenciar entre recubrimientos con emisividades muy próximas en valor absoluto.
En este trabajo se plantea optimizar un montaje para la medida de emisividad, de forma que la medida esté directamente relacionada con la emisión de radiación de las muestras, finalmente se intentará establecer un modelo para hacer una estimación de la emisividad con dichas medidas
Para ello se ha usado una cámara termográfica, para lo cual ha sido necesario optimizar el montaje, evitando ruidos de fondo y asegurándose de la estabilidad de la medida.

Tipo de Trabajo Académico: Trabajo Fin de Grado