GDOC-2013-2802

Caracterización II: Microscopias avanzadas - [66104]


Curso: 2013-2014

Universidad de Zaragoza, Zaragoza

Titulación: Máster Universitario en Materiales Nanoestructurados para Aplicaciones Nanotecnológicas

Idioma: Español

Profesor(es): Arnaudas Pontaque, José Ignacio ; Martín Solans, Santiago ; Serrate Donoso, David

Resumen:       En esta asignatura se dan a conocer al estudiante las microscopias avanzadas (electrónicas, dual-beam y de sonda local) que permiten estudiar la morfología y topografía de materiales nanoestructurados con resolución nanométrica además de ser poderosas herramientas de análisis, determinación de propiedades eléctricas y magnéticas a escala molecular y permitir la manipulación de la materia a escala atómica y molecular.      Los contenidos de esta asignatura son:       Introducción a al microscopia electrónica y de sonda local. Microscopia electrónica de barrido. Microscopia electrónica de transmisión (imagen y difracción). Técnicas de análisis asociados a la microscopia electrónica: Dispersión de rayos X y de pérdidas de energía de electrones. Microscopia de efecto túnel. Espectroscopias de superficies. Microscopia de fuerzas atómicas y magnéticas. Microscopias “dual-beam”: imagen, “etching”, nanolitografía, deposición. Otras microscopias avanzadas ópticas: confocal y de campo próximo.        Las clases teóricas serán complementadas por la realización de sesiones prácticas que incluyen:                         1.- SEM                         2.- TEM                         3.- AFM                         4.- STM

Abstract: This subject will show the student the advanced microscopes (electronic, dual-beam and scanning probe) that allow the morphology and topography of nanostructured materials to be studied with nanometric resolution in addition to being powerful analytical tools, determining electric and magnetic properties at the molecular scale and allowing the handling of the substance at atomic and molecular scale. A description of the contents of this subject includes: Introduction to electronic and scanning probe microscopy. Scanning electron microscopy. Transmission electron microscopy (image and diffraction). Analysis techniques linked to electron microscopy: X-ray dispersion and electron energy loss. Atomic and magnetic force microscopy. Scanning tunnelling microscopy. Surface spectroscopy. "Dual-beam" microscopes: image, "etching", nanolithography, deposition. Other advanced optical microscopes: confocal and near-field. The theory classes are complemented by practical sessions including: 1.- SEM 2.- TEM 3.- AFM 4.- STM

Creative Commons You must give appropriate credit, provide a link to the license, and indicate if changes were made. You may do so in any reasonable manner, but not in any way that suggests the licensor endorses you or your use. You may not use the material for commercial purposes. If you remix, transform, or build upon the material, you must distribute your contributions under the same license as the original.



Este registro pertenece a las colecciones:
Academic resources > Academic guides > guias-docentes-ciencias > masteres-ciencias > master-materiales-nanoestructurados-aplicaciones-nanotecnologicas
Academic resources > Academic guides > Guías docentes: Curso 2013-2014



Back to search

Guide (english):
Download fulltextPDF
Guía (idioma español):
Download fulltextPDF
Rate this document:

Rate this document:
1
2
3
 
(Not yet reviewed)