000042718 001__ 42718 000042718 005__ 20170831220435.0 000042718 037__ $$aGDOC-2012-2272 000042718 041__ $$aspa 000042718 100__ $$0(orcid)0000-0003-0602-492X$$aMarquina Garcia, Clara Isabel 000042718 24500 $$966104$$aCaracterización II: Microscopias avanzadas 000042718 260__ $$aZaragoza$$bUniversidad de Zaragoza$$c2012-2013 000042718 521__ $$9637$$aMáster Universitario en Materiales Nanoestructurados para Aplicaciones Nanotecnológicas 000042718 520__ $$a En esta asignatura se dan a conocer al estudiante las microscopias avanzadas (electrónicas, dual-beam y de sonda local) que permiten estudiar la morfología y topografía de materiales nanoestructurados con resolución nanométrica además de ser poderosas herramientas de análisis, determinación de propiedades eléctricas y magnéticas a escala molecular y permitir la manipulación de la materia a escala atómica y molecular. Una breve descripción de los contenidos de esta asignatura incluye: Introducción a al microscopia electrónica y de sonda local. Microscopia electrónica de barrido. Microscopia electrónica de transmisión (imagen y difracción). Técnicas de análisis asociados a la microscopia electrónica: Dispersión de rayos X y de pérdidas de energía de electrones. Microscopia de efecto túnel. Espectroscopias de superficies. Microscopia de fuerzas atómicas y magnéticas. Microscopias “dual-beam”: imagen, “etching”, nanolitografía, deposición. Otras microscopias avanzadas ópticas: confocal y de campo próximo. Las clases teóricas serán complementadas por la realización de sesiones prácticas que incluyen: 1.- SEM 2.- TEM 3.- AFM 4.- STM =============== This subject will show the student the advanced microscopes (electronic, dual-beam and scanning probe) that allow the morphology and topography of nanostructured materials to be studied with nanometric resolution in addition to being powerful analytical tools, determining electric and magnetic properties at the molecular scale and allowing the handling of the substance at atomic and molecular scale. A brief description of the contents of this subject includes: Introduction to electronic and scanning probe microscopy. Scanning electron microscopy. Transmission electron microscopy (image and diffraction). Analysis techniques linked to electron microscopy: X-ray dispersion and electron energy loss. Atomic and magnetic force microscopy. Scanning tunnelling microscopy. Surface spectroscopy. "Dual-beam" microscopes: image, "etching", nanolithography, deposition. Other advanced optical microscopes: confocal and near-field. The theory classes are complemented by practical sessions including: 1.- SEM 2.- TEM 3.- AFM 4.- STM 000042718 540__ $$aby-nc-sa$$bCreative Commons$$c3.0$$uhttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/ 000042718 700__ $$0(orcid)0000-0002-4729-9578$$aCea Mingueza, Pilar 000042718 700__ $$0(orcid)0000-0001-9566-0738$$aDe Teresa Nogueras, José María 000042718 700__ $$0(orcid)0000-0002-2624-6004$$aArnaudas Pontaque, José Ignacio 000042718 700__ $$0(orcid)0000-0001-9193-3874$$aMartín Solans, Santiago 000042718 700__ $$0(orcid)0000-0002-6761-6171$$aMagén Domínguez, Cesar 000042718 700__ $$0(orcid)0000-0002-3260-9641$$aSerrate Donoso, David 000042718 700__ $$0(orcid)0000-0002-4456-1120$$aPérez Gregorio, Víctor 000042718 830__ $$9282 000042718 8564_ $$s76546$$uhttps://zaguan.unizar.es/record/42718/files/guia.pdf$$yGuía (idioma español) 000042718 8564_ $$s73013$$uhttps://zaguan.unizar.es/record/42718/files/guia-66104-eng.pdf$$yGuide (english) 000042718 980__ $$aGDOC$$bCiencias$$c100