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Gap and Van Hove Measurements via Low-loss Electron Energy Loss Spectroscopy on Atomically thin MoxW(1-x)S2 Nanoflakes
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Gap and Van Hove Measurements via Low-loss Electron Energy Loss Spectroscopy on Atomically thin MoxW(1-x)S2 Nanoflakes
-
Pelaez Fernández, Mario
et al
- COMPON-2016-0001
Palabras clave:
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Dissociation;Electron emission;Electron energy levels;Electron scattering;Energy dissipation;Energy gap;Nanotechnology;Transmission electron microscopy
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