Estadisticas : Attention guided multi-task learning for surface defect identification

Sampath, V.
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760 ( Estados Unidos de América )

179 ( Singapur )

68 ( Hong kong )

34 ( Francia )

32 ( Reino Unido )

25 ( Alemania )

23 ( Irlanda )

19 ( China )

17 ( Letonia )

16 ( Brasil )

15 ( España )

14 ( Rusia )

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