Estadisticas : Characterization of 65-nm CMOS Integrated Resistors in the Cryogenic Regime Marqués-García, Jorge Visitas:105 67 ( Estados Unidos de América ) 19 ( Singapur ) 6 ( Rusia ) 3 ( Alemania ) 2 ( Letonia ) 2 ( Hong kong ) 1 ( Uzbekistán ) 1 ( Reino Unido ) 1 ( Tailandia ) 1 ( Finlandia ) 1 ( Irlanda ) 1 ( España ) Descargas: 48
67 ( Estados Unidos de América ) 
19 ( Singapur ) 
6 ( Rusia ) 
3 ( Alemania ) 
2 ( Letonia ) 
2 ( Hong kong ) 
1 ( Uzbekistán ) 
1 ( Reino Unido ) 
1 ( Tailandia ) 
1 ( Finlandia ) 
1 ( Irlanda ) 
1 ( España )