Estadisticas : Growth and structural characterization of strained epitaxial Hf0.5Zr0.5O2 thin films

Torrejón, Luis
Visitas:1615

817 ( Estados Unidos de América )

287 ( Reino Unido )

226 ( Singapur )

80 ( Hong kong )

59 ( Rusia )

34 ( Alemania )

21 ( España )

13 ( Letonia )

12 ( Brasil )

9 ( Francia )

8 ( Turquía )

8 ( China )

5 ( Finlandia )

4 ( Australia )

4 ( Austria )

3 ( Canadá )

3 ( Irlanda )

2 ( Togo )

2 ( Vietnam )

2 ( Suecia )

1 ( Bélgica )

1 ( Bulgaria )

1 ( Países Bajos )

1 ( Costa de Marfil )

1 ( Chile )

1 ( Italia )

1 ( Argentina )

1 ( Pakistán )

1 ( Costa Rica )

1 ( Tunez )

1 ( Ucrania )

1 ( El Salvador )

1 ( Arabia Saudita )

1 ( México )

Descargas: 908