Estudios
I+D+I
Institución
Internacional
Vida Universitaria
Repositorio Institucional de Documentos
Buscar
Enviar
Personalizar
Sus alertas
Sus carpetas
Sus búsquedas
Ayuda
EN
/
ES
Página principal
>
Tesis
>
Deep Learning Algorithms in Industry 4.0; Application of Surface defect inspection for quality control
> Acceso al texto completo
Información:
Estadísticas de uso
Ficheros
Deep Learning Algorithms in Industry 4.0; Application of Surface defect inspection for quality control
-
Sampath, Vignesh
et al
- TESIS-2024-017
TESIS_FILE
archivo(s):
TESIS-2024-017
versión 1
TESIS-2024-017.pdf
[72.23 MB]
17 Ene 2024, 10:48
Texto completo (eng)