Estudios
I+D+I
Institución
Internacional
Vida Universitaria
Repositorio Institucional de Documentos
Buscar
Enviar
Personalizar
Sus alertas
Sus carpetas
Sus búsquedas
Ayuda
EN
/
ES
Página principal
>
Artículos
>
Cryogenic measurement of CMOS devices for quantum technologies
> Acceso al texto completo
Estadísticas de uso
Gráficos
Cryogenic measurement of CMOS devices for quantum technologies
-
Pérez-Bailón, Jorge
et al
- ART-2023-136494
Main
archivo(s):
texto_completo
versión 1
texto_completo.jpg (icon)
[3.44 MB]
22 Ene 2024, 15:32
Postprint
texto_completo.pdf
[1.45 MB]
22 Ene 2024, 15:32
Postprint