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Gap and Van Hove Measurements via Low-loss Electron Energy Loss Spectroscopy on Atomically thin MoxW(1-x)S2 Nanoflakes
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Gap and Van Hove Measurements via Low-loss Electron Energy Loss Spectroscopy on Atomically thin MoxW(1-x)S2 Nanoflakes
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Pelaez Fernández, Mario
et al
- COMPON-2016-0001
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archivo(s):
90000
versión 1
90000.pdf
[777.73 KB]
02 May 2018, 12:46