Estudios
I+D+I
Institución
Internacional
Vida Universitaria
Repositorio Institucional de Documentos
Buscar
Enviar
Personalizar
Sus alertas
Sus carpetas
Sus búsquedas
Ayuda
EN
/
ES
Página principal
>
Artículos
>
Flip-and-Patch: A Fault-Tolerant Technique for On-Chip Memories of CNN Accelerators at Low Supply Voltage
> Acceso al texto completo
Estadísticas de uso
Gráficos
Flip-and-Patch: A Fault-Tolerant Technique for On-Chip Memories of CNN Accelerators at Low Supply Voltage
-
Toca-Díaz, Yamilka
et al
- ART-2024-136807
Main
archivo(s):
texto_completo
versión 1
texto_completo.jpg (icon)
[2.45 MB]
19 Feb 2024, 13:49
Versión publicada
texto_completo.pdf
[1.27 MB]
19 Feb 2024, 13:49
Versión publicada